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Sem Microcharacterization of Semiconductors: Volume 12 (Techniques of Physics, Volume 12) - Hardcover
Reseña del editor
Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
- VerlagElsevier Limited
- Erscheinungsdatum1989
- ISBN 10 0123538556
- ISBN 13 9780123538550
- EinbandTapa dura
- SpracheEnglisch
- Anzahl der Seiten468
- HerausgeberHolt D B, Joy D C
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SEM Microcharacterization of Semiconductors (Volume 12) (Techniques of Physics (Volume 12))
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Techniques of Physics: SEM Microcharacterization of Semiconductors (Volume 12)
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SEM Microcharacterization of Semiconductors
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SEM Microcharacterization of Semiconductors, Volume 12
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Hardcover. Zustand: Fair. Some edges moisture creased, else Vg; Techniques of Physics; 1.08 x 9.27 x 6.27 Inches; 452 pages. Bestandsnummer des Verkäufers 1000061351
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SEM Microcharacterization of Semiconductors (Volume 12) (Techniques of Physics (Volume 12))
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Hardcover. Zustand: New. Pristine. Bestandsnummer des Verkäufers 0S-F6A6-V6VJ
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Sem Microcharacterization of Semiconductors
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Zustand: Gut. Zustand: Gut - Gebrauchs- und Lagerspuren. Außen: verschmutzt. Innen: Seiten eingerissen, Seiten verschmutzt. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. | Seiten: 452 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Bestandsnummer des Verkäufers 1402151/203
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