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Principles of Semiconductor Network Testing - Softcover

Afshar, Amir

 
9780123992710: Principles of Semiconductor Network Testing
Softcover
ISBN 10: 0123992710 ISBN 13: 9780123992710
Verlag: Newnes, 2011

Inhaltsangabe

This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor. This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

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Reseña del editor

This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor. This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

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  • VerlagNewnes
  • Erscheinungsdatum2011
  • ISBN 10 0123992710
  • ISBN 13 9780123992710
  • EinbandTapa blanda
  • SpracheEnglisch
  • Anzahl der Seiten236
  • Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar

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9780123992710: Principles of Semiconductor Network Testing
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9780750694728: Principles of Semiconductor Network Testing

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ISBN 10:  0750694726 ISBN 13:  9780750694728
Verlag: Newnes, 1995
Hardcover

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Amir Afshar
Verlag: Newnes, 2011
ISBN 10: 0123992710 ISBN 13: 9780123992710
Neu Paperback

Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich

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Paperback. Zustand: Brand New. 236 pages. 9.35x6.00x0.54 inches. In Stock. Bestandsnummer des Verkäufers zk0123992710

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