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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical & Imaging Sciences, Band 5) - Hardcover
Inhaltsangabe
This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.
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Scanning Force Microscopy With
Verlag:
Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X
ISBN 13: 9780195092042
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
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U.S.A.: Oxford University Press, 1994
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Verlag:
Oxford University Press, New York, 1994
ISBN 10: 019509204X
ISBN 13: 9780195092042
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Hard Back. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy. Bestandsnummer des Verkäufers 16182
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
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Oxford University Press, 1994
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Bestandsnummer des Verkäufers 2017699/202
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences, 5)
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Scanning Force Microscopy
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