High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - Softcover

Bowen, D. K.; Tanner, Brian K.

 
9780367400637: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Softcover
ISBN 10: 0367400634 ISBN 13: 9780367400637
Verlag: CRC Press, 2019

Inhaltsangabe

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

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Verlag
CRC Press
Erscheinungsdatum
2019
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0367400634
ISBN 13 
9780367400637
Einband
Taschenbuch
Anzahl der Seiten
264
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Nicht verfügbar
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