Defect Analysis in Electron Microscopy - Hardcover

Loretto, Michael; Smallman, R. E.

 
9780412137600: Defect Analysis in Electron Microscopy
Hardcover
ISBN 10: 0412137607 ISBN 13: 9780412137600
Verlag: Chapman and Hall, 1976
Verlag
Chapman and Hall
Erscheinungsdatum
1976
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0412137607
ISBN 13 
9780412137600
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
144
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