Verwandte Artikel zu Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspectiv...
Inhaltsangabe
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Suchergebnisse für Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspectiv...
Foto des Verkäufers
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers 2043133-n
Neu kaufen
EUR 95,47
EUR 2,28 Versand
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Bestandsnummer des Verkäufers DB-9780442006433
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service. Bestandsnummer des Verkäufers POD-156060
Neu kaufen
EUR 98,36
Versand gratis
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Bestandsnummer des Verkäufers DB-9780442006433
Neu kaufen
EUR 94,97
EUR 4,86 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition. Bestandsnummer des Verkäufers 2043133
Gebraucht kaufen
EUR 109,62
EUR 2,28 Versand
Versand innerhalb von USA
Versand innerhalb von USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers 2043133-n
Neu kaufen
EUR 94,96
EUR 17,54 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition. Bestandsnummer des Verkäufers 2043133
Gebraucht kaufen
EUR 111,12
EUR 17,54 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Verlag:
Springer US, Springer Aug 1993, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
Neu
Hardcover
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9780442006433
Neu kaufen
EUR 106,99
EUR 23,00 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Verlag:
Springer US, Springer Aug 1993, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
Neu
Hardcover
Anbieter: Rheinberg-Buch Andreas Meier eK, Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9780442006433
Neu kaufen
EUR 106,99
EUR 23,00 Versand
Versand von Deutschland nach USA
Versand von Deutschland nach USA
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective (Electrical Engineering)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. In. Bestandsnummer des Verkäufers ria9780442006433_new
Neu kaufen
EUR 116,68
EUR 14,01 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar