Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6 - Hardcover

Cheng, Chi-Lun; Van Ness, John W.

 
9780470711064: Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6
Hardcover
ISBN 10: 047071106X ISBN 13: 9780470711064
Verlag: Wiley, 1999

Inhaltsangabe

Providing a general survey of the theory of measurement error models, including the functional, structural, and ultrastructural models, this book is written in the of the Kendall and Stuart Advanced Theory of Statistics set and, like that series, includes exercises at the end of the chapters. The goal is to emphasize the ideas and practical implications of the theory in a style that does not concentrate on the theorem-proof format.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Chi-Lun Cheng and John W. Van Ness are the authors of Statistical Regression with Measurement Error: Kendall's Library of Statistics 6, published by Wiley.

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Verlag
Wiley
Erscheinungsdatum
1999
Sprache
Englisch
ISBN 10 
047071106X
ISBN 13 
9780470711064
Einband
Gebundene Ausgabe
Auflage
1
Anzahl der Seiten
282
Kontakt zum Hersteller
Wiley-VCH GmbH
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Boschstrasse 12
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69469
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