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Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits) - Hardcover
Inhaltsangabe
Book by Howes M J Morgan David Vernon
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Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits
Anbieter: Ammareal, Morangis, Frankreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Moyen. Ancien livre de bibliothèque. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1981. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Acceptable. Former library book. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1981. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Bestandsnummer des Verkäufers E-065-993
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Reliability and Degradation: Semiconductor Devices anmd Circuits
Verlag:
John Wiley and Sons Ltd, 1981
ISBN 10: 0471280283
ISBN 13: 9780471280286
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Hardcover
Anbieter: J. HOOD, BOOKSELLERS, ABAA/ILAB, Baldwin City, KS, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. 444pp. Near new condition, covers bright, text clean & binding tight in a like dust jacket. Bestandsnummer des Verkäufers 221070
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Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits)
Verlag:
U.S.A.: John Wiley & Sons Ltd, 1981
ISBN 10: 0471280283
ISBN 13: 9780471280286
Gebraucht
Hardcover
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Anbieter: Bingo Books 2, Vancouver, WA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: Very Good. 1st Edition. hardback book and dust jacket in very good-plus condition,from private company library. Bestandsnummer des Verkäufers 129419
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