Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits) - Hardcover

Howes, M. J.; Morgan, David Vernon

 
9780471280286: Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits)
Hardcover
ISBN 10: 0471280283 ISBN 13: 9780471280286
Verlag: John Wiley & Sons Ltd, 1981
Verlag
John Wiley & Sons Ltd
Erscheinungsdatum
1981
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0471280283
ISBN 13 
9780471280286
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
456
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