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Inhaltsangabe
A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.
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Über die Autorin bzw. den Autor
David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
Anbieter: HPB-Red, Dallas, TX, USA
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
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Foundations of Measurement : Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
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Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Paperback or Softback)
Verlag:
Dover Publications 12/15/2006, 2006
ISBN 10: 0486453154
ISBN 13: 9780486453156
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Foundations of Measurement Volume II Format: Paperback
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Foundations of Measurement : Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Foundations of Measurement Volume II: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations (Dover Books on Mathematics)
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