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A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies.
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Reflection Electron Microscopy And Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (Paperback)
Verlag:
Cambridge University Press, Cambridge, 2005
ISBN 10: 0521017955
ISBN 13: 9780521017954
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Paperback. Zustand: new. Paperback. In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature. Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9780521017954
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis
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Cambridge University Press 2008-11-12, 2008
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Reflection Electron Microscopy And Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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Zustand: New. A self-contained book on electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. Num Pages: 460 pages, 224 b/w illus. 10 tables. BIC Classification: TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 730. . 2008. Revised ed. paperback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780521017954
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