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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims (Cambridge Solid State Science Series) - Hardcover
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The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies.
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
Verlag:
Cambridge University Press, 1998
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
Verlag:
Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
Verlag:
Cambridge University Press CUP, 1998
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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Zustand: New. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies. Series Editor(s): Clarke, D. R.; Suresh, S.; Ward, I. M. Series: Cambridge Solid State Science Series. Num Pages: 214 pages, 119 b/w illus. 19 tables. BIC Classification: PNN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 13. Weight in Grams: 605. . 1998. hardcover. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780521352222
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static Sims
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies.Inhaltsverzeichnis1. Introduction 2. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 3. Information from polymer XPS 4. Static secondary ion mass sp. Bestandsnummer des Verkäufers 446932714
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Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Hardcover)
Verlag:
Cambridge University Press, Cambridge, 1998
ISBN 10: 0521352223
ISBN 13: 9780521352222
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. This book provides an in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) with a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. In this book, the techniques of XPS and SSIMS are described and in each case the author explains what type of information may be obtained. The book also includes details of case studies emphasising the complementary and joint application of XPS and SSIMS in the investigation of polymer surface structure and its relationship to the properties of the material. This book will be of value to academic and industrial researchers interested in polymer surfaces and surface analysis. The book describes the development of two powerful techniques for polymer surface studies. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9780521352222
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