Inhaltsangabe
A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Verlag:
Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X
ISBN 13: 9780521554909
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X
ISBN 13: 9780521554909
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X
ISBN 13: 9780521554909
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Bestandsnummer des Verkäufers 10053967/202
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Hardcover)
Verlag:
Cambridge University Press, Cambridge, 2000
ISBN 10: 052155490X
ISBN 13: 9780521554909
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. This is a clear and up-to-date account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques, and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of new superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunnelling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures.Detailed references are included. An account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9780521554909