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Inhaltsangabe
A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Verlag:
Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Bestandsnummer des Verkäufers 10053967/202
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
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Zustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780521554909
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