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Inhaltsangabe
The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Niraj Jha is Professor of Electrical Engineering at Princeton University and head of the Center of Embedded System-on-a-Chip Design, where his current research is focussed on the synthesis and testing of these devices. He is a fellow of IEEE, associate editor of IEEE Transactions on VLSI Systems and The Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) and a recipient of the AT&T Foundation award and the NEC preceptorship award for research excellence.
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Testing of Digital Systems
Verlag:
Cambridge University Press, Cambridge, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
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Cambridge University Press, 2003
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Zustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,2250grams, ISBN:9780521773560. Bestandsnummer des Verkäufers 4847241
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Cambridge University Press, 2003
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Cambridge University Press, 2003
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Cambridge University Press, 2003
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Zustand: New. The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems. Num Pages: 1016 pages, 90 tables. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 247 x 174 x 49. Weight in Grams: 2185. . 2003. hardcover. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780521773560
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Print-on-DemandAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 1016 pages. 10.20x7.25x1.75 inches. In Stock. This item is printed on demand. Bestandsnummer des Verkäufers __0521773563
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Testing of Digital Systems (Hardcover)
Verlag:
Cambridge University Press, Cambridge, 2003
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Hardcover. Zustand: new. Hardcover. Device testing represents the single largest manufacturing expense in the semiconductor industry, costing over USD40 billion a year. The most comprehensive and wide ranging book of its kind, Testing of Digital Systems covers everything you need to know about this vitally important subject. Starting right from the basics, the authors take the reader through automatic test pattern generation, design for testability and built-in self-test of digital circuits before moving on to more advanced topics such as IDDQ testing, functional testing, delay fault testing, memory testing, and fault diagnosis. The book includes detailed treatment of the latest techniques including test generation for various fault models, discussion of testing techniques at different levels of integrated circuit hierarchy and a chapter on system-on-a-chip test synthesis. Written for students and engineers, it is both an excellent senior/graduate level textbook and a valuable reference. A book on the testing of semiconductor devices and systems. This item is printed on demand. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9780521773560
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