Focused Ion Beam Systems Hardback: Basics and Applications - Hardcover

Yao

 
9780521831994: Focused Ion Beam Systems Hardback: Basics and Applications

Inhaltsangabe

This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

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Über die Autorin bzw. den Autor

NAN YAO holds several positions at Princeton University, New Jersey. He is director of the Imaging and Analysis Center; Senior Research Scholar at the Institute for the Science and Technology of Materials; and a lecturer in Mechanical and Aerospace Engineering.

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Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0521158591 ISBN 13:  9780521158596
Verlag: Cambridge University Press, 2011
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