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Platform Interference in Wireless Systems: Models, Measurement, and Mitigation - Hardcover

 
9780750687577: Platform Interference in Wireless Systems: Models, Measurement, and Mitigation

Inhaltsangabe

Intra-system EMC problems are becoming increasingly common in mobile devices, ranging from notebook PCs to cell phones, with RF/wireless capbilities. These issues range from minor annoyances to serious glitches which impede the functioning of the device. This book gives a thourough review of electromagnetic theory (including Maxwell's equations), discusses possible sources and causes of intra-system interference, shows to use models and analysis to discover potential sources of intra-system EMC in a design, how to use appropriate tests and measurements to detect intra-system EMC problems, and finally extensively discusses measures to mitigate or totally eliminate intra-system EMC problems. With more and more mobile devices incorporating wirless capability (often with multiple wireless systems, such as Bluetooth and WiFi), this book should be part of the reference shelf of every RF/wireless engineer and mobile device designer.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

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ISBN 10:  0323281451 ISBN 13:  9780323281454
Verlag: Newnes, 2014
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Slattery, Kevin & Skinner, Harry
Verlag: Newnes, Mass., 2008
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Slattery, Kevin
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Slattery, Kevin; Skinner, Harry
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