Characterization of Semiconductor Materials, Volume 1: Principles and Methods (Volume 1) - Hardcover

McGuire, Gary F.

 
9780815512004: Characterization of Semiconductor Materials, Volume 1: Principles and Methods (Volume 1)
Hardcover
ISBN 10: 0815512007 ISBN 13: 9780815512004
Verlag: William Andrew, 1989

Inhaltsangabe

Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
William Andrew
Erscheinungsdatum
1989
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0815512007
ISBN 13 
9780815512004
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
342
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Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
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