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Characterization of Semiconductor Materials, Volume 1: Principles and Methods - Hardcover

 
9780815512004: Characterization of Semiconductor Materials, Volume 1: Principles and Methods
Hardcover
ISBN 10: 0815512007 ISBN 13: 9780815512004
Verlag: William Andrew, 1989
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Book by McGuire Gary F

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Reseña del editor:
Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

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  • VerlagWilliam Andrew
  • Erscheinungsdatum1989
  • ISBN 10 0815512007
  • ISBN 13 9780815512004
  • EinbandTapa dura
  • Anzahl der Seiten344
  • HerausgeberMcGuire Gary E.

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McGuire, Gary F.
Verlag: Elsevier Science (1989)
ISBN 10: 0815512007 ISBN 13: 9780815512004
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Gary E. McGuire
Verlag: William Andrew (1990)
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Gary F. McGuire
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McGuire, Gary F.
Verlag: Elsevier Science (1989)
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McGuire, Gary F.
Verlag: WILLIAM ANDREW INC (1990)
ISBN 10: 0815512007 ISBN 13: 9780815512004
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(Greven, Deutschland)
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Buchbeschreibung Gebunden. Zustand: New. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.KlappentextCharacterization of semiconductor materials and methods used to characterize them are des. Bestandsnummer des Verkäufers 595054653

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