Inhaltsangabe
Book by Ludwig Reimer
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Über die Autorin bzw. den Autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy (Tutorial Texts in Optical Engineering)
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Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy
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SPIE--The International Society for Optical Engineering, 1993
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Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy (SPIE Tutorial Text Vol. TT12) (Tutorial Texts in Optical Engineering)
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Zustand: New. Series: Tutorial Texts. Num Pages: 143 pages, illustrations. BIC Classification: PDND; PHK. Category: (G) General (US: Trade); (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178. Weight in Grams: 295. . 1993. Paperback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9780819412065
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Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy (SPIE Tutorial Text Vol. TT12) (Tutorial Texts in Optical Engineering)
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Zustand: New. Series: Tutorial Texts. Num Pages: 143 pages, illustrations. BIC Classification: PDND; PHK. Category: (G) General (US: Trade); (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178. Weight in Grams: 295. . 1993. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland. Bestandsnummer des Verkäufers V9780819412065
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Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy
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