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Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X: 24-25 January 2011, San Francisco, California, United States - Softcover

Garcia-Blanco, Sonia

 
9780819484659: Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X: 24-25 January 2011, San Francisco, California, United States
Softcover
ISBN 10: 0819484652 ISBN 13: 9780819484659
Verlag: SPIE Press, 2011
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  • VerlagSPIE Press
  • Erscheinungsdatum2011
  • ISBN 10 0819484652
  • ISBN 13 9780819484659
  • EinbandTapa blanda
  • Anzahl der Seiten256

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