Inhaltsangabe
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
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Über die Autorin bzw. den Autor
Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Verlag:
Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Bestandsnummer des Verkäufers 1244488/202
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