Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications - Hardcover

David, Rene

 
9780824701826: Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Hardcover
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Verlag: Taylor & Francis Inc, 1998

Inhaltsangabe

"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "

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Über die Autorin bzw. den Autor

Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.

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Verlag
Taylor & Francis Inc
Erscheinungsdatum
1998
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0824701828
ISBN 13 
9780824701826
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
475
Kontakt zum Hersteller
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Verantwortliche Person
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