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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition: Feature Extraction and Computational Intelligence (Industrial Electronics) - Hardcover
Inhaltsangabe
There are many books on neural networks, some of which cover computational intelligence, but none that incorporate both feature extraction and computational intelligence as this volume does. Supervised and Unsupervised Pattern Recognition describes the application of a novel, unsupervised pattern recognition scheme to the classification of various types of waveforms and images. It also discusses the establishment of a brain-to-computer link and analyzes findings from human experiments in a new light. In the quickly changing field of computational intelligence, every discovery is significant. In one convenient volume, this work provides access to notable findings and current applications.
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Evangelia Miche Tzanakou
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition : Feature Extraction and Computational Intelligence
Verlag:
Taylor & Francis Group, 1999
ISBN 10: 0849322782
ISBN 13: 9780849322785
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition: Feature Extraction and Computational Intelligence (Industrial Electronics)
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition: Feature Extraction and Computational Intelligence (Industrial Electronics)
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition : Feature Extraction and Computational Intelligence
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition
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Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Evangelia Miche TzanakouThere are many books on neural networks, some of which cover computational intelligence, but none that incorporate both feature extraction and computational intelligence, as Supervised and Unsupervised Pattern Recognition . Bestandsnummer des Verkäufers 595092143
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Supervised and Unsupervised Pattern Recognition: Feature Extraction and Computational Intelligence (Industrial Electronics)
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