High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - Hardcover

Bowen, D. K.; Tanner, Brian K.

 
9780850667585: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Hardcover
ISBN 10: 0850667585 ISBN 13: 9780850667585
Verlag: CRC Press, 1998

Inhaltsangabe

The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

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Verlag
CRC Press
Erscheinungsdatum
1998
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0850667585
ISBN 13 
9780850667585
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
264
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