A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
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Hardcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Légères traces d'usure sur la couverture. Edition 1989. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Slight signs of wear on the cover. Edition 1989. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Bestandsnummer des Verkäufers D-706-850
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Gebunden. Zustand: New. KlappentextA companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importan. Bestandsnummer des Verkäufers 898961556
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi. Bestandsnummer des Verkäufers 9780890063507
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