Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 340 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Digital Hardware Testing presents realistic transistor-level fault models and testing methods for all types of circuits. The discussion details design-for-testability and built-in self-test methods, with coverage of boundary scan and emerging technologies such as partial scan, cross check, and circular self-test-path. Bestandsnummer des Verkäufers 2546002/202
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Gebunden. Zustand: New. InhaltsverzeichnisIntroduction to digital IC testing faults in digital circuits bridging faults in random logic open faults in random logic text generation and fault simulation problems testing of structured designs (programmable l. Bestandsnummer des Verkäufers 898961687
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