Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors: Symposium Held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A (Materials) - Hardcover

Johnson, Noble M.; Bishop, Stephen G.; Watkins, George D.

9780931837111: Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors: Symposium Held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A (Materials)

Hardcover

ISBN 10: 0931837111 ISBN 13: 9780931837111

Verlag: Materials Research Society, 1985

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Verlag: Materials Research Society
Erscheinungsdatum: 1985
Sprache: Englisch
ISBN 10: 0931837111
ISBN 13: 9780931837111
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Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materia Ls Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)

Johnson, Noble M., Stephen G. Bishop, And George D. Watkins, Editors

Verlag: Materials Research Society, 1985

ISBN 10: 0931837111 ISBN 13: 9780931837111

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