Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics (Cambridge RF and Microwave Engineering) - Hardcover

Buch 15 von 20: Cambridge RF and Microwave Engineering

T. Mitch Wallis , Pavel Kabos

 
9781107120686: Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics (Cambridge RF and Microwave Engineering)
Hardcover
ISBN 10: 1107120683 ISBN 13: 9781107120686
Verlag: Cambridge University Press, 2017

Inhaltsangabe

Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

T. Mitch Wallis is a physicist in the Applied Physics Division at the National Institute of Standards and Technology, Boulder, Colorado. He is also the Chair of the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Microwave Theory and Techniques Society's Technical Committee on Radio Frequency Nanotechnology.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Cambridge University Press
Erscheinungsdatum
2017
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1107120683
ISBN 13 
9781107120686
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
328
Kontakt zum Hersteller
preigu GmbH & Co. KG
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Deutschland