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Inhaltsangabe
This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The results presented here assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Prof. José Luis Huertas is Director of the Instituto de Microelectronica de Sevilla in Spain. He has edited one book on Testing for Kluwer, that published in October 2004, and was series editor for the three book series from the European Mixed-Signal Initiative for Electronic System Design.
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- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum2006
- ISBN 10 1402053142
- ISBN 13 9781402053146
- EinbandTapa dura
- SpracheEnglisch
- Anzahl der Seiten472
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addresses both, the industry world which can apply its contents to develop new alternatives to complement the existing functional test techniques for mixed-signal circuits, as well as the academic world to prepare teachers in Electronic Engineering in th. Bestandsnummer des Verkäufers 4094083
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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Buch. Zustand: Neu. Neuware -Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test ¿ OBT in short. The results here presented allow to assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 472 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781402053146
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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
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