Verwandte Artikel zu Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide...
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard: 22B (Frontiers in Electronic Testing) - Softcover
Inhaltsangabe
Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Reseña del editor
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Neu kaufen
Diesen Artikel anzeigen
EUR 92,27
Gratis für den Versand innerhalb von/der Deutschland
Versandziele, Kosten & Dauer
Suchergebnisse für Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide...
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Print-on-DemandAnbieter: moluna, Greven, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu. Bestandsnummer des Verkäufers 4175638
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Verlag:
Springer US, Springer US Dez 2010, 2010
ISBN 10: 1441953159
ISBN 13: 9781441953155
Neu
Taschenbuch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 192 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781441953155
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented. Bestandsnummer des Verkäufers 9781441953155
Anzahl: 1 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. In. Bestandsnummer des Verkäufers ria9781441953155_new
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers 11872075-n
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Best Price, Torrance, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING. Bestandsnummer des Verkäufers 9781441953155
Anzahl: 2 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers 11872075-n
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition. Bestandsnummer des Verkäufers 11872075
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition. Bestandsnummer des Verkäufers 11872075
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Beispielbild für diese ISBN
Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. pp. 192. Bestandsnummer des Verkäufers 2614419236
Anzahl: 4 verfügbar