Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Softcover

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

 
9781461407898: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Softcover
ISBN 10: 1461407893 ISBN 13: 9781461407898
Verlag: Springer, 2012

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Inhaltsangabe

Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2012
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1461407893
ISBN 13 
9781461407898
Einband
Taschenbuch
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Deutschland

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