9781461461647: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Softcover
ISBN 10: 1461461642 ISBN 13: 9781461461647
Verlag: Springer, 2013

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Inhaltsangabe

Introduction.- CMOS Reliability Overview.- Transistor Aging Compact Modeling.- Background on IC Reliability Simulation.- Analog IC Reliability Simulation.- Integrated Circuit Reliability.- Conclusions.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2013
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1461461642
ISBN 13 
9781461461647
Einband
Taschenbuch
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Deutschland

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