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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach - Softcover

Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.

 
9781461523666: Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach
Softcover
ISBN 10: 1461523664 ISBN 13: 9781461523666
Verlag: Springer, 2011

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Inhaltsangabe

Preface. 1. Introduction. 2. Defect-Oriented Testing. 3. Macro Test: A Framework for Testable IC Design. 4. Examples of Leaf-Macro Test Techniques. 5. Scan Chain Routing with Minimal Test Application Time. 6. Test Control Block Concepts. 7. Exploiting Parallelism in Leaf-Macro Access. 8. Timing Aspects of CMOS VLSI Circuits. List of Symbols and Abbreviations. References. Index.

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  • VerlagSpringer
  • Erscheinungsdatum2011
  • ISBN 10 1461523664
  • ISBN 13 9781461523666
  • EinbandPaperback
  • SpracheEnglisch
  • Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar

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Hardcover