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Yield Simulation for Integrated Circuits - Softcover

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Softcover
ISBN 10: 1475719329 ISBN 13: 9781475719321
Verlag: Springer, 2013

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Inhaltsangabe

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2013
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Einband
Paperback
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Verlag: Springer, 1987
Hardcover