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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits - Softcover

Sachdev, Manoj

 
9781475749274: Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Softcover
ISBN 10: 1475749279 ISBN 13: 9781475749274
Verlag: Springer, 2013

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Inhaltsangabe

Foreword. Prface. 1. Introduction. 2. Digital CMOS Fault Modeling and Inductive Fault Analysis. 3. Defects in Logic Circuits and Their Test Implications. 4. Testing Defects in Sequential Circuits. 5. Defect Oriented RAM Testing and Current Testable RAMs. 6. Testing Defects in Programmable Logic Circuits. 7. Defect Oriented Analog Testing. 8. Conclusion. Index.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2013
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1475749279
ISBN 13 
9781475749274
Einband
Paperback
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