Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience - Softcover

Zuo, Jian Min; Spence, John C.H.

 
9781493966066: Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

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Inhaltsangabe

Introduction and historical background.- Electron Waves and Wave Propagation.- The geometry of electron diffraction patterns.- Kinematical Theory of Electron Diffraction.- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals.- Electron optics.- Lens aberrations and Aberration Correction.- Electron Sources.- Electron Detectors.- Instrumentation and experimental techniques.- Crystal symmetry.- Crystal structure and bonding.- Diffuse Scattering.- Atomic resolution electron imaging.- Imaging and characterization of crystal defects.- Strain Measurements and Mapping.- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes.

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Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  1493966057 ISBN 13:  9781493966059
Verlag: Springer, 2016
Hardcover