Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM) - Softcover

Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.

 
9781501524783: Failure Analysis: High Technology Devices (De Gruyter STEM)

Inhaltsangabe

The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.

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