Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits (Integrated Mircosystems) - Hardcover

Bahukudumbi, Sudarshan; Chakrabarty, Krishnendu

Hardcover

ISBN 10: 1596939893 ISBN 13: 9781596939899

Verlag: Artech House Publishers, 2010

Inhaltsangabe

Wafer-level testing refers to a critical process of subjecting integrated circuits and semiconductor devices to electrical testing while they are still in wafer form. Burn-in is a temperature/bias reliability stress test used in detecting and screening out potential early life device failures. This hands-on resource provides a comprehensive analysis of these methods, showing how wafer-level testing during burn-in (WLTBI) helps lower product cost in semiconductor manufacturing. Engineers learn how to implement the testing of integrated circuits at the wafer-level under various resource constraints. Moreover, this unique book helps practitioners address the issue of enabling next generation products with previous generation testers. Practitioners also find expert insights on current industry trends in WLTBI test solutions.

Über diesen Titel

Über die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

Details zur Ausgabe

• Verlag: Artech House Publishers
• Erscheinungsdatum: 2010
• Sprache: Englisch
• ISBN 10: 1596939893
• ISBN 13: 9781596939899
• Einband: Tapa dura
• Auflage: 1
• Anzahl der Seiten: 210
• Kontakt zum Hersteller: Nicht verfügbar
• Verantwortliche Person: Nicht verfügbar