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Inhaltsangabe
A thorough and in-depth preparation guide for PMP® and CAPM® exams covering Precedence Diagramming Method/Activity-On-Node concepts and their analysis using Critical Path Method. This guide explains the concepts with illustrated examples with emphasis on special situations. Explanation of concepts through stepwise solved examples will provide readers hands-on ability for their application. This guide will serve as a launch pad for advanced study in this area beyond the requirements of the two exams.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Pmp/Capm Exam Prep: A Basic Guide to Activity-on-node and Critical Path Method
Verlag:
Booklocker.Com Inc (edition First Edition), 2011
ISBN 10: 161434504X
ISBN 13: 9781614345046
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Paperback
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PMP®/CAPM® EXAM PREP : A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method
Print-on-DemandAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - A thorough and in-depth preparation guide for PMP® and CAPM® exams covering Precedence Diagramming Method/Activity-On-Node concepts and their analysis using Critical Path Method. This guide explains the concepts with illustrated examples with emphasis on special situations. Explanation of concepts through stepwise solved examples will provide readers hands-on ability for their application. This guide will serve as a launch pad for advanced study in this area beyond the requirements of the two exams. Bestandsnummer des Verkäufers 9781614345046
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Pmp(R)/Capm(R) Exam Prep
Print-on-DemandAnbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
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Pmp/Capm Exam Prep: A Basic Guide to Activity-on-node and Critical Path Method
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Pmp(R)/Capm(R) Exam Prep
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Pmp(R)/Capm(R) Exam Prep: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method
Verlag:
Booklocker Inc.,US, 2011
ISBN 10: 161434504X
ISBN 13: 9781614345046
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Paperback / softback
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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PMP®/CAPM® EXAM PREP
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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Pmp/Capm Exam Prep : A Basic Guide to Activity-on-node and Critical Path Method
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Pmp/Capm Exam Prep : A Basic Guide to Activity-on-node and Critical Path Method
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Pmp(r)/Capm(r) Exam Prep: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method (Paperback or Softback)
Verlag:
Booklocker.com 10/1/2011, 2011
ISBN 10: 161434504X
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Paperback or Softback
Anbieter: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, USA
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Paperback or Softback. Zustand: New. Pmp(r)/Capm(r) Exam Prep: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method. Book. Bestandsnummer des Verkäufers BBS-9781614345046
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