Introduction.- The Transmission Electron Microscope.- Linear Image Approximations.- Sampling and the Fast Fourier Transform.- Calculating Images of Thin Specimens.- Calculating Images of Thick Specimens.- Some Worked Examples.- Program Details.- App. A: Atomic Potentials and Scattering Factors.- App. B: The Fourier Projection Theorem.- App. C: Bilinear Interpolation.- App. D: 3D Perspective View.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.