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Advanced Computing in Electron Microscopy - Softcover

 
9783030332617: Advanced Computing in Electron Microscopy

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Inhaltsangabe

Introduction.- The Transmission Electron Microscope.- Linear Image Approximations.- Sampling and the Fast Fourier Transform.- Calculating Images of Thin Specimens.- Calculating Images of Thick Specimens.- Some Worked Examples.- Program Details.- App. A: Atomic Potentials and Scattering Factors.- App. B: The Fourier Projection Theorem.- App. C: Bilinear Interpolation.- App. D: 3D Perspective View.

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  • VerlagSpringer
  • Erscheinungsdatum2020
  • ISBN 10 3030332616
  • ISBN 13 9783030332617
  • EinbandPaperback
  • SpracheEnglisch
  • Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar

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