Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Softcover

Buch 92 von 548: Lecture Notes in Electrical Engineering

Liu, Xiao; Xu, Qiang

 
9783319005348: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

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Inhaltsangabe

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

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Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  3319005324 ISBN 13:  9783319005324
Verlag: Springer, 2013
Hardcover