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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Softcover

Liu, Xiao; Xu, Qiang

 
9783319005348: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Softcover
ISBN 10: 3319005340 ISBN 13: 9783319005348
Verlag: Springer, 2013

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Inhaltsangabe

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2013
Sprache
Englisch
ISBN 10 
3319005340
ISBN 13 
9783319005348
Einband
Paperback
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