Verwandte Artikel zu Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...

Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences) - Softcover

 
9783642083723: Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences)

Inhaltsangabe

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Von der hinteren Coverseite

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Gebraucht kaufen

Zustand: Gut bis sehr gut
Near Fine softcover. Previous owner's...
Diesen Artikel anzeigen

EUR 67,56 für den Versand von USA nach Deutschland

Versandziele, Kosten & Dauer

Gratis für den Versand innerhalb von/der Deutschland

Versandziele, Kosten & Dauer

Suchergebnisse für Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...

Beispielbild für diese ISBN

Reimer, Ludwig
Verlag: Springer, 2010
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Gebraucht Soft cover

Anbieter: Robert Fulgham, Bookseller, Idaho Falls, ID, USA

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Soft cover. Zustand: Near Fine. 2nd Edition. Near Fine softcover. Previous owner's name and date on the first page, else Fine Clean, bright and tight. No writing or other marks. We wrap and box our books for shipping. Bestandsnummer des Verkäufers 24593

Verkäufer kontaktieren

Gebraucht kaufen

EUR 96,90
Währung umrechnen
Versand: EUR 67,56
Von USA nach Deutschland
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb

Foto des Verkäufers

Ludwig Reimer
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Softcover
Print-on-Demand

Anbieter: moluna, Greven, Deutschland

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Main benefit is information about the physics of image formation and microanalysis in scanning electron microscopy2nd, completely revised and updated editionScanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe . Bestandsnummer des Verkäufers 5047413

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 294,19
Währung umrechnen
Versand: Gratis
Innerhalb Deutschlands
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

In den Warenkorb

Beispielbild für diese ISBN

Reimer, Ludwig
Verlag: Springer, 2010
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Softcover

Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Zustand: New. In. Bestandsnummer des Verkäufers ria9783642083723_new

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 319,20
Währung umrechnen
Versand: EUR 5,85
Von Vereinigtes Königreich nach Deutschland
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

In den Warenkorb

Foto des Verkäufers

Ludwig Reimer
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Taschenbuch

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642083723

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 353,09
Währung umrechnen
Versand: Gratis
Innerhalb Deutschlands
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb

Foto des Verkäufers

Ludwig Reimer
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Taschenbuch

Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642083723

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 353,09
Währung umrechnen
Versand: Gratis
Innerhalb Deutschlands
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb

Foto des Verkäufers

Ludwig Reimer
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Taschenbuch
Print-on-Demand

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. 544 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642083723

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 353,09
Währung umrechnen
Versand: Gratis
Innerhalb Deutschlands
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb

Beispielbild für diese ISBN

Reimer, Ludwig
Verlag: Springer, 2010
ISBN 10: 3642083722 ISBN 13: 9783642083723
Neu Softcover

Anbieter: California Books, Miami, FL, USA

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Zustand: New. Bestandsnummer des Verkäufers I-9783642083723

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 371,74
Währung umrechnen
Versand: EUR 8,55
Von USA nach Deutschland
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

In den Warenkorb