Inhaltsangabe
Low Noise Amplification..- I. Introduction.- II. Noise factor, noise temperature and noise measure.- III. Measurement of low noise temperature.- IV. Grid control tube and transistor amplifiers.- V. Low-noise traveling-wave tube amplifiers.- VI. Parametric amplifiers.- VII. Tunnel diode amplifier.- VIII. Conclusion.- Measurement Methods and Instruments for Microwave Frequencies.- List of symbols.- I. General principles.- a) Electromagnetic radiation.- b) Radiation and matter.- c) Circuits and components.- II. Basic electrical quantities.- a) Measurement of power.- b) Measurement of attenuation.- c) Measurement of impedance.- III. Wavelength.- a) Transmission-line methods.- b) Free-space methods.- IV. Properties of materials.- a) Dielectric measurements.- b) Molecular spectra of gases.- c) Magnetic-field effects.- d) Time-dependent phenomena.- V. Frequency.- a) Direct measurement.- b) Reference standards.- VI. Miscellaneous techniques.- a) Noise measurements.- b) Electromagnetic field strength.- c) Relativity and gravitation.- References.- Messung von Magnetfeldern.- 1. Resonanzmethoden.- 2. Nichtlinearität der B-H-Kurve ferromagnetischer Materialien.- 3. Induktionsspulen.- 4. Galvanomagnetische Effekte in Halbleitern.- 5. Sonstige Methoden.- Literatur.- Recording of Measuring Data.- A. Analogue and digital recording.- B. Means of recording.- C. Analogue recording methods.- I. Continuously recording systems.- a) Optical recording.- aa) Light beam oscillographs.- ab) Cathode ray oscilloscopes.- b) Direct acting and indirect acting recording.- ba) Direct acting recorders.- bb) Indirect acting systems.- c) Magnetic recording.- II. Discontinuously recording systems.- III. Intermittently recording systems.- D. Digital recording methods.- E. Standard recording equipment for a laboratory and outlook.- Literature.- Frequency and Time Measurements.- A. Introduction.- B. Time and frequency references.- I Time definitions.- II. Epoch and time interval.- III. Standard frequency and time signal broadcasts.- IV. Time synchronization.- V. Accuracy and stability.- a) Accuracy.- b) Long-term stability.- c) Short-term stability.- d) Factors affecting long-term and short-term stability.- VI. Time and frequency standards.- a) General.- b) Quartz frequency standards.- c) Atomic frequency standards.- C. Frequency measuring instruments and techniques.- I. Introduction.- II. Frequency counters.- III. Wavemeters and bridges.- IV. Ratemeters.- V. Heterodyne frequency meters.- VI. Oscilloscope comparisons.- VII. Frequency synthesizers.- VIII. Mixing, multiplying, and dividing.- IX. Measurements on resonant systems.- D. Time interval measurements.- I. General.- II. Counters.- III. Other methods of time interval measurement.- References.- Temperaturmessung.- A. Temperaturskala und Thermometerarten.- I. Thermodynamische Temperaturskala.- II. Internationale Praktische Temperaturskala.- III. Thermometerarten und Begriffe der Thermometrie.- B. Elektrische Berührungsthermometer.- I. Thermoelemente.- a) Meßprinzip.- b) Arten von Thermopaaren.- c) Aufbau und Ausführung von Thermoelementen..- d) Ausgleichsleitungen.- e) Konstanthaltung der Vergleichstemperatur.- f) Rechnerische Berücksichtigung der Vergleichstemperatur.- g) Selbsttätige Berücksichtigung der Vergleichstemperatur.- II. Widerstandsthermometer mit metallischen Meßfühlern.- a) Meßprinzip und Werkstoffe.- b) Aufbau und Ausführung.- c) Erwärmungsfehler.- d) Einfluß des Zuleitungswiderstands.- III. Widerstandsthermometer mit Halbleiter-Meßfühlern.- a) Meßprinzip und Werkstoffe.- b) Ausführung und Anwendung.- IV. Quarzthermometer.- C. Verfahren und Geräte zur Thermospannungs- und Widerstandsmessung.- I. Messung der Thermospannung.- a) Ausschlagsverfahren.- b) Kompensationsverfahren.- c) Meßverstärker.- II. Messung des Widerstands.- a) Quotienteninstrumente.- b) Unvollständig abgeglichene Brücken.- c) Abgeglichene Brücken.- d) Kompensatoren.- D. Einbau von Berührungsthermometern.- I.
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