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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - Softcover

 
9783662452417: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

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Inhaltsangabe

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

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9783662452394: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  3662452391 ISBN 13:  9783662452394
Verlag: Springer, 2015
Hardcover