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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces (Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung, Band 24) - Softcover

Chen, Chia-Wei

 
9783731514022: Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces (Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung, Band 24)
Softcover
ISBN 10: 3731514028 ISBN 13: 9783731514022
Verlag: KIT Scientific Publishing, 2025

Inhaltsangabe

Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
KIT Scientific Publishing
Erscheinungsdatum
2025
Sprache
Englisch
ISBN 10 
3731514028
ISBN 13 
9783731514022
Einband
Taschenbuch
Auflage
1
Anzahl der Seiten
210
Kontakt zum Hersteller
preigu GmbH & Co. KG
mail@preigu.de

Lengericher Landstr. 19
Osnabrück
Niedersachsen
49078
Deutschland