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Fault-tolerant Cells for Nanoelectronic Computing: Designing the building blocks for reliable nanoelectronic systems using a hierarchical tolerant approach - Softcover
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New nanometric technologies hold the promise of device integration density increases of several orders of magnitude and, accordingly, an increase of system performance and functionality. However, this improved integration density comes at the cost of a dramatic reduction of several orders of magnitude on the device quality and, in general, on the operation reliability of circuits. The causes for this increased error rate are inherent to the device's dimensions. It is widely acknowledged that fault and defect tolerant strategies will be required in future nanoelectronic systems. This book analyzes the aggression sources causing the increased fault rates and how they affect the reliability of logic gate operation. From this analysis a new logic cell structure is designed and analyzed. The cell is proposed to be used as the building block for a hierarchical approach to fault-tolerant nanoelectronic architectures. This book will be especially useful for researchers and engineers working in the development of nanoelectronic systems.
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Über die Autorin bzw. den Autor
F.Martorell is PhD in electronic engineering (Polytechnic University of Catalonia). He has a long experience in new technologies research from nanoelectronic technologies to asynchronous systems both at university and industry. Currently, he is an ASIC engineer in eSilicon Corporation.
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Fault-tolerant Cells for Nanoelectronic Computing
Verlag:
LAP LAMBERT Academic Publishing Mai 2011, 2011
ISBN 10: 3844319549
ISBN 13: 9783844319545
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New nanometric technologies hold the promise of device integration density increases of several orders of magnitude and, accordingly, an increase of system performance and functionality. However, this improved integration density comes at the cost of a dramatic reduction of several orders of magnitude on the device quality and, in general, on the operation reliability of circuits. The causes for this increased error rate are inherent to the device's dimensions. It is widely acknowledged that fault and defect tolerant strategies will be required in future nanoelectronic systems. This book analyzes the aggression sources causing the increased fault rates and how they affect the reliability of logic gate operation. From this analysis a new logic cell structure is designed and analyzed. The cell is proposed to be used as the building block for a hierarchical approach to fault-tolerant nanoelectronic architectures. This book will be especially useful for researchers and engineers working in the development of nanoelectronic systems. 148 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9783844319545
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Fault-tolerant Cells for Nanoelectronic Computing : Designing the building blocks for reliable nanoelectronic systems using a hierarchical tolerant approach
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