Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS: Étude des mécanismes de défaillance du contact électrique (OMN.UNIV.EUROP.) - Softcover

VINCENT, Maxime

Softcover

ISBN 10: 6131537658 ISBN 13: 9786131537653

Verlag: Editions universitaires europeennes, 2010

Über diesen Titel

Reseña del editor:

L'amélioration, en termes de performances et de fiabilité, des micro-interrupteurs en technologie MEMS est indispensable pour permettre leur plus large industrialisation. Les travaux présentés dans cet ouvrage s'inscrivent dans le cadre d'une collaboration entre Schneider Electric et le CEA-Leti dont a résulté un micro-interrupteur MEMS à la fiabilité supérieure à l'état de l'art mondial. Cet ouvrage présente alors une étude des mécanismes de défaillances du contact électrique de ce composant, suivie du développement d'un banc de test permettant d'évaluer l'endurance de nouveaux matériaux de contact. Une étude des mécanismes d'établissement et d'interruption du courant lorsque l'espace inter-contacts est réduit à quelques dizaines de nanomètres est ensuite présentée. L'utilisation d'un microscope à force atomique à pointe conductrice a permis de simuler à vitesse réduite l'actionnement d'un micro-contact et a permis de mettre en évidence un phénomène de transfert de matière se produisant lors des derniers instants précédant la fermeture du contact. L'ensemble de ces travaux est alors utilisé pour définir les règles de conception d'un micro-contact fiable.

Biografía del autor:

Titulaire d'un doctorat en Génie Électrique (Grenoble INP) et d'un diplôme d'ingénieur en Science des Matériaux (Polytech'Grenoble), l'auteur est spécialisé en micro et nanotechnologies. Son expertise en fiabilité des microsystèmes est le fruit de plusieurs années de recherche menées au CEA-Leti et chez Schneider Electric.

Über diese Auflage

• Verlag: Editions universitaires europeennes
• Erscheinungsdatum: 2010
• ISBN 10: 6131537658
• ISBN 13: 9786131537653
• Einband: Tapa blanda
• Anzahl der Seiten: 264