Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions - Softcover
Inhaltsangabe
This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.
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Über die Autorin bzw. den Autor
T. Ben Salah, profesor ISSAT Sousse, doktor INSA Lyon/FSM, ekspert w dziedzinie energoelektroniki. Specjalizuje si¿ w projektowaniu komponentów, EMC i integracji systemów wbudowanych. Opracowuje innowacyjne rozwi¿zania dla krytycznych aplikacji. Podej¿cie ¿¿cz¿ce modelowanie, symulacj¿ i walidacj¿ eksperymentaln¿.
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. 88 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9786208939458
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Paperback. Zustand: new. Paperback. This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Bestandsnummer des Verkäufers 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors
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ISBN 10: 6208939453
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 88 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors : Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Taschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. Bestandsnummer des Verkäufers 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions | Tarek Ben Salah (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Our Knowledge Publishing | EAN 9786208939458 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu. Bestandsnummer des Verkäufers 133536863
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