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Integrated Circuit Test Guide(Chinese Edition)
Anbieter: liu xing, Nanjing, JS, China
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
paperback. Zustand: New. Paperback. Pub Date: 2021-06-01 Pages: 257 Language: Chinese Publisher: Mechanical Industry Press Integrated Circuit Test Guide combines the testing principles of semiconductor integrated circuits with the actual test implementation process. and the content covers the testing process of semiconductor integrated circuits. Test principles and test examples of integrated operational amplifiers. power management chips. electrically erasable programmable read-only memory chips. microcontroller chi. Bestandsnummer des Verkäufers NV038641
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