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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science) - Softcover
Inhaltsangabe
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Reseña del editor
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.
The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum2017
- ISBN 10 9811074690
- ISBN 13 9789811074691
- EinbandTapa blanda
- SpracheEnglisch
- Auflage1
- Anzahl der Seiten840
- HerausgeberKaushik Brajesh Kumar, Dasgupta Sudeb, Singh Virendra
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 â" July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711)
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