Active Probe Atomic Force Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer International Publishing Nov 2023, 2023

3031442326 / 9783031442322

Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of the instrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. 392 pp. Englisch. …

Bestandsnummer des Verkäufers 9783031442322

Titel
Active Probe Atomic Force Microscopy
Autor
Fangzhou Xia
Verlag
Springer International Publishing Nov 2023
Erscheinungsjahr
2023
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3031442326
ISBN-13
9783031442322
Artikelgewicht
823 Gramm
Abmessungen
241x160x21 mm

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