Advanced Computing in Electron Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2020, 2020

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Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy. 368 pp. Englisch.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783030332594

Titel
Advanced Computing in Electron Microscopy
Autor
Earl J. Kirkland
Verlag
Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2020
Erscheinungsjahr
2020
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3030332594
ISBN-13
9783030332594
Auflage
3. Auflage
Artikelgewicht
717 Gramm
Abmessungen
241x160x26 mm

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